光隔離探頭OIP系列

產品型號 : OIP100B OIP200B OIP500B OIP1000B

OIP 系列光隔離探頭採用獨家 SigOFIT ™ 光纖隔離技術,

在其頻寬範圍內擁有極高的共模抑制能力,

並將測量精度提升到1%的水準,

為高頻寬、高共模電壓信號測試環境提供性能卓越的解決方案。

帶寬:100-1000MHz

共模電壓:60kVpk

精度:1%

共模抑制比 :高達160dB



最佳的信號完整性

優於1% 的直流精度,長期穩定可靠且不受溫度變化影響,極大程度提升測試的準確性最高達160dB 的共模抑制比,幾乎消除共模干擾,相比於傳統高壓差分探頭,大大減少測量時產生的震蕩和雜訊,是氮化鎵與碳化矽測試的不二之選在全頻寬範圍內優於1.41mVrms 底噪


解決傳統差分探頭測量時的困擾

匹配不同的衰減探頭,可測試±2.5V 至±2500V 差分信號,並實現滿量程輸出測試引線短,寄生電容小,測試氮化鎵十分安全比傳統差分探頭更小的體積,測試靈活方便上電即測,無需預熱; 秒速自校準,無需等待。


光隔離探頭應用場景

氮化鎵、碳化矽、IGBT半/全橋設備的設計與分析逆變器、UPS及開關電源的測試高壓高頻寬測試應用的安全隔離測試寬電壓、寬頻測試應用各種浮地測試電機驅動設計、功率轉換器設計、電子鎮流器設計電源設備評估、電流並聯測量、EMI 和ESD故障排除。


產品參數表

光隔離探頭型號 OIP100B OIP200B OIP500B OIP1000B
帶寬 100MHz 200MHz 500MHz 1GHz
上升時間 ≤3.5ns ≤1.75ns ≤700ps ≤350ps
輸出電壓 ±2.5V ±1V
傳輸延遲 15.42ns(光纖長度2米)
供電 Type-C介面, DC:5V
DC測量精度 1%
底噪 <1.41mVrms
測試電壓 1X:±2.5V
10X:±25V
20X:±50V
500X:±1250V
1000X:±2500V
1X:±1V
10X:±10V
20X:±20V
500X:±500V
1000X:±1000V
共模電壓 60kVpk
電-光轉換器電池工作時長 8小時
光纖長度 2米/10米(光纖長度可定製)
輸入阻抗 SMA輸入:1MΩ || 10pF
OP10:4.47MΩ || 3.0pF
OP20:4.23MΩ || 2.8pF

OP500:12.27MΩ || 2.6pF

OP1000:30.63MΩ || 2.6pF

共模抑制比  
探頭前端 DC 1M 100M 230. 500M 1G
SMA 160dB 156dB 116dB 110dB 102dB 96dB
OP10 160dB 136dB 96dB 90dB 82dB 76dB
OP20 160dB 130dB 90dB 84dB 76dB 70dB
OP500 160dB 102dB 62dB 56dB 48dB 42dB
OP1000 160dB 96dB 56dB 50dB 42dB 36dB
 

產品使用手冊Product Manual

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